CERN
Accelerating science
Sign in
Directory
CERN Document Server
Access articles, reports and multimedia content in HEP
Main menu
ძებნა
დაყენება
დახმარება
პერს
თქვენი ცვლილებები
თქვენი კალათები
Your comments
თქვენი ძებნა
მთავარი
>
CERN R&D Projects
>
CERN Detector R&D Projects
>
RD53
> RD53 Conference Proceedings
RD53 Conference Proceedings
ეძებე 1 ჩანაწერი:
ძებნის მინიშნებანი
გაფართოებული ძებნა
Add to Search
+
და
ან
და არა
ყველა სიტყვა:
ნებისმიერი სიტყვები:
ზუსტი ფრაზა:
ნაწილობრივი ფრაზა:
რეგულარული გამოსახულებანი:
any field
title
author
abstract
report number
year
Search also in the full-text of all documents
უკანასკნელი დამატებები:
2016-11-09
21:46
Results of FE65-P2 Pixel Readout Test Chip for High Luminosity LHC Upgrades
/
Garcia-Sciveres, Mauricio
(Lawrence Berkeley National Lab. (US)) /RD53 Collaboration
A pixel readout test chip called FE65-P2 has been fabricated on 65 nm CMOS technology. FE65-P2 contains a matrix of 64 x 64 pixels on 50 micron by 50 micron pitch, designed to read out a bump bonded sensor. [...]
CERN-RD53-PROC-16-001.-
Geneva : CERN, 2016 - 8.
- Published in :
PoS
ICHEP2016 (2016) 272
Fulltext:
PDF
;
ICHEP submission:
PDF
;
In :
38th International Conference on High Energy Physics
, Chicago, IL, USA, 03 - 10 Aug 2016, pp.272
დეტალური ჩანაწერი
-
მსგავსი ჩანაწერები